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X射线荧光涂层测厚仪
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产品描述
产品介绍
该仪器是台式镀层测厚仪产品中性能最强大的X射线荧光仪器之一。 它配备了特别加大的硅漂移探测器( SDD)。50mm2的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外,仪器还配备了各种不同的滤波片,从而能为不同的测量任务建立最优化的激发条件。
特点
配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器( SDD),能高精度地测量最薄的镀层,极耐用的设计结构,能以极出色的长期稳定性用于连续测量,可编程XY平台和Z轴,用于自动化连续测量,拥有实时的视频显示和辅助激光点，使得样品定位变得快速而简便。
应用
镀层厚度测量测量极薄镀层,如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层,测量汽车制造业中的硬质涂层,光伏产业中的镀层厚度测量。
材料分析
电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质(如重金属)进行鉴别。
分析黄金和其他贵金属及其合金,测定功能性镀层的组分如NiP镀层中的P含量。
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